方块电阻测试仪 硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法
  • 欢迎光临宁波千赢国际登陆伟业仪器有限公司官网!
  • 普通方块电阻测试仪FT-332

    发布时间: 2020-01-07 15:47:55 点击: 95
    普通方块电阻测试仪FT-332

    FT-332普通方块电阻测试仪

    参照标准:

    1.硅片电阻率测量的标准(ASTM F84).

    2.GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》.

    3.GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.

    4.GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.

    双电组合测试方法:


    利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,适用于斜置式四探针对于微区的测试。





     

     

    规格型

    FT-332

    1.方块电阻范围

    10-4~2×105Ω/□

    2.电阻率范围

    10-5~2×106Ω-cm

     

    测试电流范围

     

    10μA,100µA,1mA,10mA,100mA

    4.电流精度

    ±0.2%

     

    5.电阻精度

    ≤0.3%

    6.显示读数

    液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率

    7.测试方式

    普通单电测量

    8.工作电源

    输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<30W

    9.误差

    ≤4%(标准样片结果)

    10.选购功能

    选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台;5.标准电阻

    11.测试探头

    探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针